Miernik grubości MEGA-CHECK DX
Opis produktu
Specyfikacja techniczna
Specyfikacja sond pomiarowych
Norma
Video
Opis produktu
Miernik grubości powłok List-Magnetik MEGA-CHECK DX można podłączyć do wielu specjalistycznych sond cyfrowych, które są dostosowane do badań na bardzo małych otworach, grubych powłokach i małych punktach pomiarowych.
Specjalne funkcje, takie jak pomiar skanujący dla chropowatych powierzchni i pomiar dwustronny dla stali ocynkowanej i dodatkowo powlekanej, uzupełniają spektrum wydajności.
Precyzyjny pomiar grubości powłoki bez zakłóceń
Całkowicie nowa technologia sond cyfrowych o wysokiej częstotliwości próbkowania zapewnia bardzo stabilne pomiary. Sygnały są digitalizowane w sondzie, co zapewnia całkowicie wolne od zakłóceń i precyzyjne pomiary. Skutkuje to bardzo dokładnymi i powtarzalnymi pomiarami.
Szeroka gama sond do mierników grubości powłok
Szeroka gama sond dla metali FE (żelazo i stal) i NF (metale nieżelazne, takie jak aluminium, mosiądz, miedź, brąz i niemagnetyczna stal nierdzewna), a także sondy kombinowane z automatycznym wykrywaniem materiału bazowego.
Pomiary grubości powłok na szerokiej gamie powłok
Metoda indukcji magnetycznej umożliwia pomiar farb, lakierów, tworzyw sztucznych, gumy, ceramiki, cynku i powłok galwanicznych na stali. Metoda prądów wirowych umożliwia pomiar powłok izolacyjnych (farba, lakier, plastik, anodyzacja) na metalach nieżelaznych.
Wyświetlacz graficzny
Miernik grubości powłok wyposażony jest w graficzny panel dotykowy LCD z innowacyjnym interfejsem użytkownika i rozdzielczością 320×480 pikseli. Niebieska silikonowa ramka skutecznie chroni obudowę przed uszkodzeniem.
Rejestrator danych i interfejs
Dzięki elastycznemu przechowywaniu danych, konfigurowalnym pamięciom kalibracji i łączności Bluetooth Low Energy z systemem Windows, Android lub iOS, masz wszystko, czego potrzebujesz do gromadzenia i przetwarzania danych.
Funkcje specjalne: Scan, Duplex
Funkcja Scan umożliwia skanowanie przedmiotu obrabianego na chropowatej powierzchni i statystyczną ocenę danych. Dodatkowy wyświetlacz analogowy uzupełnia wizualizację zmierzonych wartości, umożliwiając dostrzeżenie trendów i wartości szczytowych nawet kątem oka.
Podczas pomiaru warstw izolacji na częściach ze stali ocynkowanej, funkcja Duplex jednocześnie rejestruje grubość każdej warstwy.
MEGA-CHECK DX zastąpił sprawdzone od 15 lat modele MEGA-CHECK Basic / Profi / Master. Technologia pomiarowa nowej generacji sond DX została znacznie ulepszona. Dużą zaletą jest wyświetlacz graficzny z wieloma dodatkowymi funkcjami, takimi jak pomiar skanowania i wyświetlacz analogowy. MEGA-CHECK DX oferuje wygodniejszą funkcję pamięci. Interfejs Bluetooth do komputera z systemem Windows, a także urządzeń mobilnych z systemem Android i iOS umożliwia wymianę indywidualnych pomiarów i zawartości pamięci za pomocą bezpłatnej aplikacji Lima Connect.
Specyfikacja techniczna
Zastosowanie: | W zależności od doboru sondy pomiar warstw farb, lakierów, tworzyw sztucznych i galwanicznych na stali, pomiar warstw izolacyjnych na metalach nieżelaznych z automatycznym rozpoznawaniem materiału bazowego. |
Normy: | ISO 2178, ISO 2360, BS 5411, ASTM |
Sonda pomiarowa: | zakres pomiarowy w zależności od sondy, na stali i żelazie do 30 mm (30 000 µm), na metalach NF do 2 mm (2000 µm), |
Dokładność: | poniżej 100 µm ± 1 µm, 100-1000 µm: ± 1 %, 1000-2000 µm: ± 3 %, > 2000 µm: ± 5 % |
Rozdzielczość: | 1-100 µm: 0,1 µm, 100-1000 µm: 1 µm, > 1000 µm: 10 µm |
Jednostki pomiarowe: | µm i mils |
Temperatura otoczenia: | 0 – 50° C |
Wyświetlacz: | Kolorowy panel dotykowy LCD 320×480 pikseli |
Wielojęzyczne menu: | Angielski, niemiecki, włoski, francuski, hiszpański |
Funkcja skanowania: | do dokładnych pomiarów na chropowatych lub piaskowanych powierzchniach |
Funkcja duplex: | do dokładnego określania grubości pojedynczej warstwy podczas pomiaru warstw izolacyjnych na elementach ze stali ocynkowanej (warstwa cynku musi mieć > 60 µm) |
Rejestrator danych: | 10 000 pomiarów z możliwością elastycznego podziału |
Statystyki: | Liczba / Maksimum / Minimum / Średnia / Odchylenie standardowe |
Pamięć kalibracji: | elastyczna liczba przechowywanych konfiguracji kalibracji |
Interfejs: | Interfejs Bluetooth Low Energy do komunikacji z systemami Android, iOS i Windows |
Czas pracy: | ok. 25 godzin przy zasilaniu bateryjnym, nieograniczony przy zasilaniu zewnętrznym |
Wymiary: | 150 x 85 x 35 mm |
Waga: | 320 g z bateriami |
Specyfikacja sond pomiarowych
FE lub NF | Opis | Zakres pomiarowy | Najmniejszy obszar | Najmniejszy | |
DX52-D | FE + NF combined | Podwójna sonda z przesuwaną osłoną | FE 0-5000 µm | ø 8 mm | wypukła: FE 4 mm, |
DX52-DP | FE + NF combined | Podwójna sonda z przesuwaną osłoną | FE 0-5000 µm | ø 8 mm | wypukła: FE 4 mm, |
DX5-F | FE | Standardowa sonda FE z osłoną przesuwną i pryzmatem | 0-5000 µm | ø 4 mm | wypukła: 4 mm |
DX5-FP | FE | Standardowa sonda FE z przesuwną osłoną i pryzmatem, obrotowa | 0-5000 µm | ø 4 mm | wypukła: 4 mm |
DX1-F | FE | Sonda sprężynowa do małych części i skomplikowanych powierzchni | 0-1000 µm | ø 2 mm | wypukła: 1 mm |
DX1-FT | FE | Poprzeczna sonda prętowa do małych wnętrz i rur | 0-1000 µm | ø 2 mm | wypukła: 2 mm |
DX6-FT | FE | Poprzeczna sonda prętowa do małych wnętrz i rur | 0-6000 µm | ø 3 mm | wypukła: 2 mm |
DX7-F | FE | Sonda FE do grubych warstw z prowadnicą sprężynową i pryzmatem | 0-7000 µm | ø 4 mm | wypukła: 4 mm |
Norma
ISO 2178, ISO 2360, BS 5411, ASTM
Video
